冠層分析儀科普知識(shí)大全，你真不一定都懂

　　冠層分析儀又叫葉面積指數(shù)儀，顧名思義是測(cè)定植物冠層結(jié)構(gòu)的儀器。它是根據(jù)光線(xiàn)穿過(guò)介質(zhì)減弱的比爾定律，測(cè)算植物冠層的太陽(yáng)直射光透過(guò)率、葉面積指數(shù)等，采用半理論半經(jīng)驗(yàn)的公式，通過(guò)冠層孔隙率的測(cè)定，計(jì)算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。

　　該分析儀可用于農(nóng)作物、果樹(shù)、森林內(nèi)冠層受光狀況的測(cè)量和分析;可對(duì)農(nóng)田作物群體生長(zhǎng)過(guò)程進(jìn)行動(dòng)態(tài)監(jiān)測(cè);也適用于農(nóng)業(yè)、園藝、林業(yè)領(lǐng)域有關(guān)栽培、育種、植物群體對(duì)比與發(fā)展的研究與教學(xué)。

　　冠層分析儀采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線(xiàn)穿過(guò)介質(zhì)減弱的比爾定律，在對(duì)植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下，采用半理論半經(jīng)驗(yàn)的公式，通過(guò)冠層孔隙率的測(cè)定，計(jì)算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。這是目前世界上各種冠層儀一致采用的原理。在上述原理下， 植物冠層圖象分析儀采用的是對(duì)冠層下天穹半球圖像分析測(cè)量冠層孔隙率的方法，該方法是各類(lèi)方法中和省力、省時(shí)、快捷方便的方法。

　　本產(chǎn)品是專(zhuān)門(mén)為植物冠層結(jié)構(gòu)測(cè)量設(shè)計(jì)的小型魚(yú)眼攝像鏡頭安裝在萬(wàn)向平衡接頭上，可自動(dòng)保持鏡頭處于水平狀態(tài)鏡頭安裝在測(cè)桿一端，可以方便地水平向前或垂直向上伸入到茂密的冠層中；

　　測(cè)桿一端的通迅線(xiàn)可聯(lián)接在計(jì)算機(jī)上，方便取圖操作由于小巧和帶有測(cè)桿，可伸入冠層不同高度處，快速地進(jìn)行分層測(cè)量，測(cè)出群體內(nèi)光透過(guò)率和葉面積指數(shù)垂直分布圖，冠層分析儀測(cè)桿上附帶有線(xiàn)性ＰＡＲ探頭，同時(shí)可測(cè)量冠層內(nèi)外的光量子通量密度(μmol/㎡?S)值，該值可以做為冠層內(nèi)能量分析的參考值。